38DL PLUS超聲波測(cè)厚儀穿透涂層功能
美國泛美38DL PLUS測(cè)厚儀穿透涂層功能
使用單個(gè)底面回波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測(cè)量金屬的厚度，不再需要減去表面的漆層和涂層厚度。穿透涂層測(cè)量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭
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